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Punktdefekte in Verbindungshalbleitern untersucht mit der gestörten Winkelkorrelation (Point defects in wurtzite semiconductors studied with perturbed angular correlation)
Punktdefekte in Verbindungshalbleitern untersucht mit der gestörten Winkelkorrelation (Point defects in wurtzite semiconductors studied with perturbed angular correlation) Date 2013-01-01 Experiment number IS481